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    广西11选5任选基本走势图: 一次性可编程集成电路安全.pdf

    摘要
    申请专利号:

    广西11选5大小走势图 www.fnjpv.tw CN201480003832.7

    申请日:

    2014.01.14

    公开号:

    CN104903911A

    公开日:

    2015.09.09

    当前法律状态:

    授权

    有效性:

    有权

    法律详情: 授权|||实质审查的生效IPC(主分类):G06F 21/71申请日:20140114|||公开
    IPC分类号: G06F21/71 主分类号: G06F21/71
    申请人: 高通股份有限公司
    发明人: 阿萨夫·阿什克纳济
    地址: 美国加利福尼亚州
    优先权: 13/741,248 2013.01.14 US
    专利代理机构: 北京律盟知识产权代理有限责任公司11287 代理人: 宋献涛
    PDF完整版下载: PDF下载
    法律状态
    申请(专利)号:

    CN201480003832.7

    授权公告号:

    104903911B||||||

    法律状态公告日:

    2017.05.10|||2016.02.24|||2015.09.09

    法律状态类型:

    授权|||实质审查的生效|||公开

    摘要

    本发明描述一次性可编程集成电路安全。一种?;ぜ傻缏分械拇娲⑵髯什姆椒?300)的实例包含:对多个OTP存储器阵列(124、128)的值进行取样(320);以及将每一OTP存储器阵列的所述取样值与每一其它OTP存储器阵列的所述取样值和未编程的OTP存储器阵列值进行比较(340)。所述方法进一步包含:基于所述经比较的取样值来确定(360)集成电路性能故障是否已发生;启动(370)所述集成电路;以及通过存取由所述故障发生确定所确定的存储器(184、188)来操作(380)所述集成电路。

    权利要求书

    权利要求书
    1.  一种?;ぜ傻缏分械拇娲⑵髯什姆椒?300),所述方法包括:
    对多个一次性可编程OTP存储器阵列(124、128)中的每一者的值进行取样(320);将所述多个OTP存储器阵列中的每一OTP存储器阵列的所述取样值与所述多个OTP存储器阵列中的每一其它OTP存储器阵列的所述取样值和未编程的OTP存储器阵列值进行比较(340);
    基于所述经比较的取样值来确定(360)集成电路性能故障是否已发生;
    启动(370)所述集成电路;以及
    通过存取由所述故障发生确定所确定的存储器(184、188)来操作(380)所述集成电路。

    2.  根据权利要求1所述的方法,其中确定所述故障是否已发生包括:
    如果至少一个OTP存储器阵列的所述取样值等于所述未编程的OTP存储器阵列值,那么确定所述故障已发生(364);
    如果每一OTP存储器阵列的所述取样值不等于每一其它OTP存储器阵列的所述取样值,那么确定所述故障已发生(366);以及
    如果每一OTP存储器阵列的所述取样值等于每一其它OTP存储器阵列的所述取样值且每一OTP存储器阵列的所述取样值不等于所述未编程的OTP存储器阵列值,那么确定所述故障还没有发生(368)。

    3.  根据权利要求1所述的方法,其中所述未编程的OTP存储器阵列值是0。

    4.  根据权利要求1所述的方法,其中所述未编程的存储器阵列值是(2n-1),其中n是位数。

    5.  根据权利要求1所述的方法,其包括确定安全信号(160)的指示,其中
    如果确定所述故障还没有发生,那么所述安全信号(160)指示安全操作模式(364、366);以及
    如果确定所述故障已发生,那么所述安全信号(160)指示非安全操作模式(368)。

    6.  根据权利要求1所述的方法,其中如果确定所述故障已发生,那么对存储器的存取包括对安全存储器(188)的受限制存取。

    7.  根据权利要求1所述的方法,其中启动所述集成电路没有受到所述故障发生确定的影响。

    8.  根据权利要求1所述的方法,其中所述集成电路包括芯片上系统。

    9.  一种?;ぜ傻缏分械拇娲⑵髯什姆椒?200),所述方法包括:
    对第一一次性可编程OTP存储器阵列(124)的值和第二OTP存储器阵列(128)的值进行取样(220);
    将所述第一OTP存储器阵列(124)和所述第二OTP存储器阵列(128)的所述取样值彼此并与未编程的OTP存储器阵列值进行比较(240);
    基于所述经比较的取样值来确定(260)集成电路性能故障是否已发生;
    启动(270)所述集成电路;以及
    通过存取由所述故障发生确定所确定的存储器(184、188)来操作(280)所述集成电路。

    10.  根据权利要求9所述的方法,其中确定所述故障是否已发生包括:
    如果所述第一OTP存储器阵列的所述取样值等于所述未编程的OTP存储器阵列值或所述第二OTP存储器阵列的所述取样值等于所述未编程的OTP存储器阵列值或所述第一OTP存储器阵列与所述第二OTP存储器阵列两者的所述取样值等于所述未编程的OTP存储器阵列值,那么确定所述故障已发生(264);
    如果所述第一OTP存储器阵列的所述取样值不等于所述第二OTP存储器阵列的所述取样值,那么确定所述故障已发生(266);以及
    如果所述第一OTP存储器阵列的所述取样值等于所述第二OTP存储器阵列的所述取样值且所述第一OTP存储器阵列的所述取样值不等于所述未编程的OTP存储器阵列值且所述第二OTP存储器阵列的所述取样值不等于所述未编程的OTP存储器阵列值,那么确定所述故障还没有发生(268)。

    11.  根据权利要求9所述的方法,其中所述未编程的OTP存储器阵列值是0。

    12.  根据权利要求9所述的方法,其中所述未编程的OTP存储器阵列值是(2n-1),其中n是位数。

    13.  根据权利要求9所述的方法,其包括确定安全信号(160)的指示,其中
    如果所述故障发生被确定为还没有发生,那么所述安全信号(160)指示安全操作模式(264、266);以及
    如果确定所述故障已发生,那么所述安全信号(160)指示非安全操作模式(268)。

    14.  根据权利要求9所述的方法,其中如果确定所述故障已发生,那么对存储器的存取包括对安全存储器(188)的受限制存取。

    15.  根据权利要求9所述的方法,其中启动(270)所述集成电路没有受到对所述故障发生的所述检测的影响。

    16.  根据权利要求9所述的方法,其中所述集成电路包括芯片上系统。

    17.  一种用于?;ぜ傻缏分械拇娲⑵髯什南低?100),所述系统包括:
    多个一次性可编程OTP存储器阵列(124、128);
    电路(123、127),其经配置以对所述多个OTP存储器阵列(124、128)中的每一者的值进行取样;
    比较逻辑块,其经配置以:
    将所述多个OTP存储器阵列(124、128)中的每一OTP存储器阵列的所述取样值与所述多个OTP存储器阵列中的每一其它OTP存储器阵列的所述取样值和未编程的OTP存储器阵列值进行比较;以及
    基于所述经比较的取样值来确定集成电路性能故障是否已发生;以及至少一个处理???170),其经配置以:
    启动所述集成电路;以及
    通过存取由所述故障发生确定所确定的存储器(184、188)来操作所述集成电路。

    18.  根据权利要求17所述的系统(100),其中所述比较逻辑块(140)经配置以:
    在至少一个OTP存储器阵列的所述取样值等于所述未编程的OTP存储器阵列值的情况下确定所述故障已发生;
    在每一OTP存储器阵列的所述取样值不等于每一其它OTP存储器阵列的所述取样值的情况下确定所述故障已发生;以及
    在每一OTP存储器阵列的所述取样值等于每一其它OTP存储器阵列的所述取样值且每一OTP存储器阵列的所述取样值不等于所述未编程的OTP存储器阵列值的情况下确定所述故障还没有发生。

    19.  根据权利要求17所述的系统(100),其中所述未编程的OTP存储器阵列值是0。

    20.  根据权利要求17所述的系统(100),其中所述未编程的OTP存储器阵列值是(2n-1),其中n是位数。

    21.  根据权利要求17所述的系统(100),其中所述比较逻辑块(140)经配置以确定安全信号(160)的指示,其中
    如果确定所述故障还没有发生,那么所述安全信号(160)指示安全操作模式;以及
    如果所述故障发生被确定为已发生,那么所述安全信号(160)指示非安全操作模式。

    22.  根据权利要求17所述的系统(100),其中如果确定所述故障已发生,那么对存储器(184、188)的存取包括对安全存储器的受限制存取。

    23.  根据权利要求17所述的系统(100),其中所述集成电路是通过没有受到所述故障发生确定的影响的例程来启动。

    24.  根据权利要求17所述的系统(100),其中所述集成电路包括芯片上系统。

    25.  一种用于?;ぜ傻缏分械拇娲⑵髯什南低?100),所述系统包括:
    用于对多个一次性可编程OTP存储器阵列(124、128)中的每一者的值进行取样的装置(123、127);
    用于将所述多个OTP存储器阵列(124、128)中的每一OTP存储器阵列的所述取 样值与所述多个OTP存储器阵列中的每一其它OTP存储器阵列的所述取样值和未编程的OTP存储器阵列值进行比较的装置(145);
    用于基于所述经比较的取样值来确定集成电路性能故障是否已发生的装置(140);
    用于启动所述集成电路的装置(170);以及
    用于通过存取由所述故障发生确定所确定的存储器(184、188)来操作所述集成电路的装置(170)。

    26.  根据权利要求25所述的系统(100),其中确定所述故障是否已发生包括:
    如果至少一个OTP存储器阵列的所述取样值等于所述未编程的OTP存储器阵列值,那么确定所述故障已发生;
    如果每一OTP存储器阵列的所述取样值不等于每一其它OTP存储器阵列的所述取样值,那么确定所述故障已发生;以及
    如果每一OTP存储器阵列的所述取样值等于每一其它OTP存储器阵列的所述取样值且每一OTP存储器阵列的所述取样值不等于所述未编程的OTP存储器阵列值,那么确定所述故障还没有发生。

    27.  根据权利要求25所述的系统(100),其中所述未编程的OTP存储器阵列值是0。

    28.  根据权利要求25所述的系统(100),其中所述未编程的OTP存储器阵列值是(2n-1),其中n是位数。

    29.  根据权利要求25所述的系统(100),其包括用于确定安全信号(160)的指示的装置,其中
    如果确定所述故障还没有发生,那么所述安全信号(160)指示安全操作模式;以及
    如果确定所述故障已发生,那么所述安全信号(160)指示非安全操作模式。

    30.  根据权利要求25所述的系统(100),其中如果确定所述故障已发生,那么对存储器(184、188)的存取包括对安全存储器的受限制存取。

    31.  根据权利要求25所述的系统(100),其中启动所述集成电路没有受到所述故障发生确定的影响。

    32.  根据权利要求25所述的系统(100),其中所述集成电路包括芯片上系统。

    33.  一种计算机程序产品,其驻留于处理器可读非暂时性存储媒体上且包括处理器可读指令,所述处理器可读指令可由一或多个处理器执行以:
    使电路(123、127)对多个一次性可编程OTP存储器阵列(124、128)中的每一者的值进行取样;
    使比较逻辑块(140):
    将所述多个OTP存储器阵列(124、128)中的每一OTP存储器阵列的所述取样值与所述多个OTP存储器阵列中的每一其它OTP存储器阵列的所述取样值和未编程的OTP存储器阵列值进行比较;以及
    基于所述经比较的取样值来确定集成电路性能故障是否已发生;启动所述集成电路;以及通过存取由所述故障发生确定所确定的存储器(184、188)来操作所述集成电路。

    34.  根据权利要求33所述的计算机程序产品,其包括处理器可读指令,所述处理器可读指令用以使所述比较逻辑块(140):
    在至少一个OTP存储器阵列的所述取样值等于所述未编程的OTP存储器阵列值的情况下确定所述故障已发生;
    在每一OTP存储器阵列的所述取样值不等于每一其它OTP存储器阵列的所述取样值的情况下确定所述故障已发生;以及
    在每一OTP存储器阵列的所述取样值等于每一其它OTP存储器阵列的所述取样值且每一OTP存储器阵列的所述取样值不等于所述未编程的OTP存储器阵列值的情况下确定所述故障还没有发生。

    35.  根据权利要求33所述的计算机程序产品,其中所述未编程的OTP存储器阵列值是0。

    36.  根据权利要求33所述的计算机程序产品,其中所述未编程的OTP存储器阵列值是 (2n-1),其中n是位数。

    37.  根据权利要求33所述的计算机程序产品,其包括处理器可读指令,所述处理器可读指令用以使所述比较逻辑块(140)确定安全信号(160)的指示,其中
    如果确定所述故障还没有发生,那么所述安全信号(160)指示安全操作模式;以及
    如果所述故障发生被确定为已发生,那么所述安全信号(160)指示非安全操作模式。

    38.  根据权利要求33所述的计算机程序产品,其中如果确定所述故障已发生,那么对存储器(184、188)的存取包括对安全存储器(188)的受限制存取。

    39.  根据权利要求33所述的计算机程序产品,其中所述集成电路是通过没有受到所述故障发生确定的影响的例程来启动。

    40.  根据权利要求33所述的计算机程序产品,其中所述集成电路包括芯片上系统。

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